Comparación técnico-numérica y análisis estadístico de la medición de calidad superficial 2D (microgeometría) y 3D (nanogeometría)

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Herrero Pérez, Carmen (-)
Formato:	Electrónico
Idioma:	Castellano
Publicado:	Madrid : Universidad Pontificia Comillas 2012.
Materias:	Medición. Rugosímetros. Aicnecod- > Proyectos fin de Carrera- > DOPFCICAI.

Descripción
Notas:	Proyecto fin de carrera-Universidad Pontificia Comillas, Escuela Técnica Superior de Ingeniería (ICAI), Ingeniero en Organización Industrial. Director del proyecto: Marian Sáenz Nuño y Raquel Caro Carretero.

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