Medir para Competir : 1er. Congreso Nacional de Metrología : Madrid, 28, 29 y 30 de mayo de 1996

Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo: Congreso Nacional de Metrología (-)
Formato: Libro
Idioma:Castellano
Publicado: Madrid : [s.n.] 1996.
Materias:
Descripción
Descripción Física:627 p. : il. ; 31 cm