Rapid reliability assessment of VLSICs

Detalles Bibliográficos
Otros Autores:	Dorey, A.P (-)
Formato:	Libro
Idioma:	Inglés
Publicado:	New York [etc.] : Plenum Press cop. 1990.
Materias:	Circuitos integrados. Fiabilidad (Ingeniería)

Descripción
Descripción Física:	IX, 202 p. ; 25 cm
ISBN:	9780306434921

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