Fundamentals of atomic force microscopy Part I, Foundations Part I, Foundations
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Libro electrónico |
| Idioma: | Inglés |
| Publicado: |
Singapore ; Hacksensack, NJ :
World Scientific Publishing Co. Pte. Ltd
[2016]
|
| Colección: | EBSCO Academic eBook Collection Complete.
Lessons from nanoscience ; vol. 4. |
| Acceso en línea: | Conectar con la versión electrónica |
| Ver en Universidad de Navarra: | https://innopac.unav.es/record=b32495353*spi |
| Descripción Física: | 1 recurso electrónico |
|---|---|
| Formato: | Forma de acceso: World Wide Web. |
| Bibliografía: | Incluye referencias bibliográficas e índice. |
| ISBN: | 9789814630368 |
