Measurement techniques for thin films

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Schwartz, Bertram (-)
Otros Autores: Schwartz, Newton
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: New York : Electrochemical Society 1967
Edición:1a ed
Materias:
Ver en Universidad de Navarra:https://innopac.unav.es/record=b24685264*spi
Descripción
Descripción Física:364 p.