Computed electron micrographs and defect indentification

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Head, A.K (-)
Formato:	Libro
Idioma:	Inglés
Publicado:	Amsterdam : North-Holland Publishing Company 1973
Edición:	1a ed
Materias:	Materiales > Técnicas de observación y análisis
Ver en Universidad de Navarra:	https://innopac.unav.es/record=b24549691*spi

Descripción
Descripción Física:	400 p.
ISBN:	9780720417579

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