Scanning electron microscopy 1976 : proceedings

Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo: Symposium on the Scanning Electron Microscope (-)
Otros Autores: Johari, Om, editor literario (editor literario), Becker, Robert P., editor literario
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: Chicago : IIT Research Institute 1976.
Materias:
Ver en Universidad de Navarra:https://innopac.unav.es/record=b15997030*spi
Descripción
Notas:Sesiones celebradas en Toronto, Canada, los días 5-9 de Abril de 1976.
Vol. 2 editado por Robert P. Becker.
Descripción Física:2 v. : il. ; 29 cm
Bibliografía:Incluye referencias bibliográficas e índices.
ISBN:9780915802098
9780915802104
9780915802005