Una nueva versión del programa de refinamiento SHELX : aplicación a estudios estructurales (por difracción de Rayos X)

Una nueva versión del programa de refinamiento SHELX aplicación a estudios estructurales (por difracción de Rayos X)

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Van der Maelen Uria, Juan Francisco (-)
Formato: Tesis
Idioma:Castellano
Publicado: Oviedo : Universidad, Servicio de Publicaciones 1992
Colección:Tesis doctorales (Universidad de Oviedo)
Materias:
Difracción cristalográfica por Rayos X
Cristales > Estructura.
Ver en Universidad de Navarra:https://innopac.unav.es/record=b12320080*spi
Descripción
Descripción Física:1 microficha ; 11 x 15 cm + 6 p. ; 16 cm
ISBN:9788474687156

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