Degradación y ruptura dieléctrica del SiO2 en estructuras metal-óxido-semiconductor

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Suñe Tarruella, Jorge Francisco (-)
Formato: Tesis
Idioma:Castellano
Publicado: Bellaterra : Publicacions de la Universitat Autònoma de Barcelona 1990
Colección:Tesis Doctorals de la Universitat Autonoma de Barcelona
Materias:
Ver en Universidad de Navarra:https://innopac.unav.es/record=b11964807*spi
Descripción
Descripción Física:1 microficha ; 11 x 15 cm + 7 p. ; 18 cm
ISBN:9788474886276