Applied logistic regression

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Hosmer, David W. (-)
Otros Autores: Lemeshow, Stanley, coautor (coautor)
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: New York [etc.] : Wiley & Sons 1989
Colección:Wiley Series in Probability and Mathematical Statistics. Applied Probability and Statistics
Materias:
Ver en Universidad de Navarra:https://innopac.unav.es/record=b1155146x*spi
Descripción
Descripción Física:XIII, 307 p. ; 24 cm
ISBN:9780471615538