Advanced scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis

Advanced scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis

Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Newbury, D. E. (Dale E.) (-)
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: New York [etc.] : Plenum Press 1986
Materias:
Microscopios electrónicos computarizados
Microanálisis > Técnicas computarizadas.
Electrónica > Microelectrónica
Ver en Universidad de Navarra:https://innopac.unav.es/record=b10708662*spi

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