Advanced scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis

Detalles Bibliográficos
Otros Autores:	Newbury, D. E. (Dale E.) (-)
Formato:	Libro
Idioma:	Inglés
Publicado:	New York [etc.] : Plenum Press 1986
Materias:	Microscopios electrónicos computarizados Microanálisis > Técnicas computarizadas. Electrónica > Microelectrónica
Ver en Universidad de Navarra:	https://innopac.unav.es/record=b10708662*spi

Descripción
Descripción Física:	XII, 454 p. : il. ; 24 cm
ISBN:	9780306421402

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