Built-in test design for the efficient testing of VLSI circuits
| Autor principal: | |
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| Formato: | Tesis |
| Idioma: | Inglés |
| Publicado: |
Ann Arbor :
University Microfilms International
1990, c1991.
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| Materias: | |
| Ver en Universidad de Deusto: | https://oceano.biblioteca.deusto.es/primo-explore/search?query=any,contains,991003944309703351&tab=default_tab&search_scope=deusto_alma&vid=deusto |
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| Descripción Física: | viii, 136 p. : il. ; 29 cm |
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| Bibliografía: | Bibliogr.: p. 132-136. |
