MET 2018 2018 ACM/IEEE 3rd International Workshop on Metamorphic Testing : proceedings : 27 May 2018, Gothenburg, Sweden

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	IEEE Computer Society (author)
Autores Corporativos:	IEEE Computer Society, author (author), Association for Computing Machinery-Digital Library (-)
Formato:	Libro electrónico
Idioma:	Inglés
Publicado:	Los Alamitos, California : IEEE Computer Society 2018.
Colección:	ACM Conferences
Materias:	Computer software > Testing > Congresses. Software engineering > Congresses.
Ver en Biblioteca Universitat Ramon Llull:	https://discovery.url.edu/permalink/34CSUC_URL/1im36ta/alma991009714292106719

Descripción
Descripción Física:	1 online resource (55 pages)
ISBN:	9781450357296

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