Proceedings of the first ACM SIGCOMM Workshop on Measurements Up the Stack

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Taft, Nina (-)
Autores Corporativos:	ACM SIGCOMM Conference Corporate Author (corporate author), ACM SIGCOMM Conference (-), Association for Computing Machinery-Digital Library
Otros Autores:	Wetherall, D Contributor (contributor), Taft, Nina Contributor
Formato:	Libro electrónico
Idioma:	Inglés
Publicado:	[Place of publication not identified] ACM 2011
Colección:	ACM Conferences
Materias:	Electrical & Computer Engineering Engineering & Applied Sciences Telecommunications
Ver en Biblioteca Universitat Ramon Llull:	https://discovery.url.edu/permalink/34CSUC_URL/1im36ta/alma991009713557806719

Descripción
Notas:	Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph
Descripción Física:	1 online resource (68 pages)

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