Proceedings of the 2008 Workshop on Radiation Effects and Fault Tolerance in Nanometer Technologies

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Kastensmidt, Fernanda Lima (-)
Autor Corporativo:	ACM Special Interest Group on Microarchitectural Research and Processing Content Provider (content provider)
Otros Autores:	Bronevetsky, Greg Contributor (contributor), Kastensmidt, Fernanda Lima Contributor
Formato:	Libro electrónico
Idioma:	Inglés
Publicado:	[Place of publication not identified] ACM 2008
Colección:	ACM Conferences
Materias:	Electrical & Computer Engineering Engineering & Applied Sciences Telecommunications
Ver en Biblioteca Universitat Ramon Llull:	https://discovery.url.edu/permalink/34CSUC_URL/1im36ta/alma991009712849106719

Descripción
Notas:	Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph
Descripción Física:	1 online resource (36 pages)

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