| Sumario: | La présente ligne directrice, couvrant les nanomatériaux de taille 1 nm à 1000 nm, est consacrée aux mesures de taille et de distribution granulométrique des particules de nanomatériaux. Elle comprend les méthodes suivantes : microscopie à force atomique (AFM, Atomic Force Microscopy), sédimentation par centrifugation en phase liquide (CLS, Centrifugal Liquid Sedimentation) /ultracentrifugation analytique (AUC, Analytical Ultracentrifugation), diffusion dynamique de la lumière (DLS, Dynamic Light Scattering), système d'analyse différentielle de mobilité électrique (DMAS, Differential Mobility Analysis System), analyse par traçage des (nano)particules (PTA/NTA, (Nano)Particle Tracking Analysis), diffusion des rayons X aux petits angles (SAXS, Small Angle X-Ray Scattering), microscopie électronique à balayage (MEB) et microscopie électronique à transmission (MET). Pour la mesure du diamètre et de la longueur des fibres, l'analyse d'images obtenues au microscope électronique est la seule méthode disponible actuellement.
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