International Journal of McLuhan Studies

Education Overload. From Total Surround to Pattern Recognition.

Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Ciastellardi, Matteo, editor (editor)
Formato: Libro electrónico
Idioma:Inglés
Publicado: Barcelona : Editorial UOC 2012.
Colección:Fora de Col·lecció
Materias:
Ver en Biblioteca Universitat Ramon Llull:https://discovery.url.edu/permalink/34CSUC_URL/1im36ta/alma991009420222706719
Descripción
Sumario:Education Overload. From Total Surround to Pattern Recognition.
Notas:Contiene índice.
Descripción Física:1 online resource (185 p.)
ISBN:9788493999599
9788490644744