Applied logistic regression

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Hosmer, David W. (-)
Otros Autores: Sturdivant, Rodney X., Lemeshow, Stanley
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: Hobboken : John Wiley & sons cop. 2013
Edición:3rd ed
Colección:Wiley series in probability and statistics
Materias:
Ver en Biblioteca Universitat Ramon Llull:https://discovery.url.edu/permalink/34CSUC_URL/1im36ta/alma991006021389706719
Descripción
Descripción Física:xvi, 500 p. ; 25 cm
Bibliografía:Bibliografia. Índex
ISBN:9780470582473