Estudi per tècniques físiques d'anàlisi (SEM, EDX, SIMS, LAMMA, XRD i XRf) de microcristalls exògens i endògens i de traces metàl·liques en patologia humana
| Autor principal: | |
|---|---|
| Autores Corporativos: | , |
| Otros Autores: | , |
| Formato: | Libro |
| Idioma: | Catalán |
| Publicado: |
Barcelona :
Institut d'Estudis Catalans
1989
|
| Colección: | Arxius de la Secció de Ciències ;
89 |
| Materias: | |
| Ver en Biblioteca Universitat Ramon Llull: | https://discovery.url.edu/permalink/34CSUC_URL/1im36ta/alma991003338929706719 |
| Descripción Física: | 172, [4] p. de làm. : il. (algunes col.) ; 24 cm |
|---|---|
| Bibliografía: | Bibliografia |
| ISBN: | 9788472830349 |
