Applied logistic regression

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Hosmer, David W. (-)
Otros Autores: Lemeshow, Stanley
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: New York [etc.] : John Wiley & Sons cop. 2000
Edición:2a ed
Colección:Wiley series in probability and statistics. Texts and references section
Materias:
Ver en Biblioteca Universitat Ramon Llull:https://discovery.url.edu/permalink/34CSUC_URL/1im36ta/alma991002727489706719
Descripción
Descripción Física:XII, 373 p. : gràf.; 24 cm
Bibliografía:Bibliografia
Índex
ISBN:9780471356325