Measurement technology for micro-nanometer devices
| Otros Autores: | |
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| Formato: | Libro electrónico |
| Idioma: | Inglés |
| Publicado: |
Solaris South Tower, Singapore :
John Wiley & Sons, Inc
[2017]
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| Colección: | Wiley ebooks.
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| Acceso en línea: | Conectar con la versión electrónica |
| Ver en Universidad de Navarra: | https://innopac.unav.es/record=b40607422*spi |
