Atomic Force Microscopy
This book explains the operating principles of atomic force microscopy with the aim of enabling the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. This enhanced second edition to "Scanning Probe Microscopy" (Springer, 2015)...
| Autor principal: | |
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| Autor Corporativo: | |
| Formato: | Libro electrónico |
| Idioma: | Inglés |
| Publicado: |
Cham :
Springer International Publishing
2019.
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| Edición: | 2nd ed |
| Colección: | Springer eBooks.
NanoScience and Technology ; |
| Acceso en línea: | Conectar con la versión electrónica |
| Ver en Universidad de Navarra: | https://innopac.unav.es/record=b39881842*spi |
