Scanning force microscopy with applications to electric, magnetic, and atomic forces
| Autor principal: | |
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| Formato: | Libro electrónico |
| Idioma: | Inglés |
| Publicado: |
New York :
Oxford University Press
1994.
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| Edición: | Rev. ed |
| Colección: | EBSCO Academic eBook Collection Complete.
Oxford series in optical and imaging sciences ; 5. |
| Acceso en línea: | Conectar con la versión electrónica |
| Ver en Universidad de Navarra: | https://innopac.unav.es/record=b31846488*spi |
| Descripción Física: | xiii, 263 p. : il |
|---|---|
| Formato: | Forma de acceso: World Wide Web. |
| Bibliografía: | Incluye referencias bibliográficas (p. 233-259) e índice. |
| ISBN: | 9780198022817 9780195092042 |
