Electronics reliability and measurement technology nondestructive evaluation

This book examines electronics reliability and measurement technology. It identifies advances in measurement science and technology for nondestructive evaluation, and it details common measurement trouble spots.

Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Heyman, Joseph S. (-)
Formato: Libro electrónico
Idioma:Inglés
Publicado: Park Ridge, N.J., U.S.A. : Noyes Data Corp 1988.
Colección:Science Direct e-books.
Acceso en línea:Conectar con la versión electrónica
Ver en Universidad de Navarra:https://innopac.unav.es/record=b3052927x*spi

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