IEEE Test symposium.Vlsi sistem test: Cost vs. Quality
| Autor principal: | |
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| Formato: | Libro |
| Publicado: |
Atlantic City :
I.E.E.E
1990
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| Edición: | 1a ed |
| Materias: | |
| Ver en Universidad de Navarra: | https://innopac.unav.es/record=b24749163*spi |
| Descripción Física: | - p. |
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