Microelectronic reliability. Vol.: II integrity assessment and assurance

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Pollino, Emiliano (-)
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: Boston : Artech House Books 1989
Edición:1a ed
Materias:
Ver en Universidad de Navarra:https://innopac.unav.es/record=b2460141x*spi
Descripción
Descripción Física:537 p.
ISBN:9780890063507