Failure mechanisms in semiconductor devices

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Amerasekera, E.A (-)
Otros Autores: Campbell, D.S
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: Chichester : John Wiley & Sons Limited 1987
Edición:1a ed
Materias:
Ver en Universidad de Navarra:https://innopac.unav.es/record=b24520378*spi

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