Electron microscopy and analysis

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Goodhew, Peter J. (-)
Otros Autores: Humphreys, John, Beanland, R.
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: London ; New York : Taylor & Francis cop. 2001
Edición:3rd ed
Materias:
Ver en Universidad de Navarra:https://innopac.unav.es/record=b15965211*spi
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por Goodhew, Peter J.
Publicado 2017
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