Unbiased stereology three-dimensional measurement in microscopy
Autor principal: | |
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Otros Autores: | |
Formato: | Libro |
Idioma: | Inglés |
Publicado: |
New York :
Springer
1998.
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Colección: | Microscopy handbooks ;
41. |
Materias: | |
Ver en Universidad de Navarra: | https://innopac.unav.es/record=b14532712*spi |
Descripción Física: | xvii, 246 p. : il. ; 24 cm |
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Bibliografía: | Incluye bibliografía (p. 231-238) e índice. |
ISBN: | 9780387915166 |