Post-issue patent quality control a comparative study of US patent re-examinations and European patent oppositions

Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Graham, Stuart J. H. (-)
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: Cambridge, MA : National Bureau of Economic Research 2002.
Colección:NBER Working Paper Series ; 8807
Materias:
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