Journal of electronic testing theory and applications

Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo: IEEE Computer Society. Technical Council on Test Technology (-)
Formato: Revista digital
Idioma:Inglés
Publicado: [Dordrecht] : Kluwer Academic Publishers c1990-
[Dordrecht] : Springer Netherlands
Materias:
Ver en Biblioteca Universitat Ramon Llull:https://discovery.url.edu/permalink/34CSUC_URL/1im36ta/alma991009596846806719
Descripción
Publicado:Began with vol. 1, no. 1 (Feb. 1990)
Notas:Refereed/Peer-reviewed
Frecuencia de Publicación:Bimonthly
ISSN:15730727